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本發(fā)明涉及一種磁阻式隨機(jī)存取存儲(chǔ)器，尤其涉及一種能避免源極退化以提高寫入速度和降低寫入電壓的自旋轉(zhuǎn)移矩磁阻式隨機(jī)存取存儲(chǔ)器。、相較于以傳統(tǒng)的電荷來(lái)存儲(chǔ)位信息的存儲(chǔ)器，磁阻式隨機(jī)存取存儲(chǔ)器(magnetoresistive?random-access?memory，mram)以磁性阻抗效果來(lái)...

本申請(qǐng)的所公開實(shí)施例涉及存儲(chǔ)，且更具體而言，涉及一種錘擊預(yù)防電路及具有其的存儲(chǔ)器。、在存儲(chǔ)器電路中，存儲(chǔ)陣列由若干行存儲(chǔ)電容陣列構(gòu)成。當(dāng)頻繁讀取某行的存儲(chǔ)單元時(shí)，則在信號(hào)耦合下，相鄰若干行的存儲(chǔ)電容單元的值可能被改寫，該現(xiàn)象為行錘擊。、為了防止行錘擊現(xiàn)象造成存儲(chǔ)內(nèi)容被改寫，通常會(huì)對(duì)可能發(fā)生...

本發(fā)明涉及硬盤驅(qū)動(dòng)器，特別是涉及一種光源單元、熱輔助磁頭、磁頭折片組合和硬盤驅(qū)動(dòng)器。、硬盤驅(qū)動(dòng)器(hard?disk?drive，hdd)用于向磁盤寫入數(shù)據(jù)或從磁盤讀取數(shù)據(jù)。如圖所示，通常，硬盤驅(qū)動(dòng)器包括連接到主軸電動(dòng)機(jī)的多個(gè)可旋轉(zhuǎn)磁盤、驅(qū)動(dòng)臂和安裝在驅(qū)動(dòng)臂的端部的磁頭折片組合(head?...

本公開涉及集成電路和微電子器件，具體地，涉及一種新型無(wú)電容動(dòng)態(tài)隨機(jī)存儲(chǔ)裝置。、動(dòng)態(tài)隨機(jī)存儲(chǔ)裝置(dram)是一種易失性的、基于電容的、破壞性讀取形式的存儲(chǔ)器。自從上世紀(jì)年代發(fā)明至今，dram經(jīng)過(guò)了數(shù)十年的發(fā)展，目前占據(jù)了超過(guò)五成的存儲(chǔ)器市場(chǎng)規(guī)模，占有舉足輕重的位置。、長(zhǎng)期以來(lái)，dram單元...

、本公開涉及一種存儲(chǔ)器裝置、存儲(chǔ)器系統(tǒng)以及采用存儲(chǔ)器裝置進(jìn)行數(shù)據(jù)計(jì)算的方法。、生成式人工智能(ai)推理涉及ai計(jì)算。例如，變換器模型通常使用張量處理單元(tpu)和存儲(chǔ)器進(jìn)行計(jì)算。大的變換器模型需要大量的數(shù)據(jù)和計(jì)算，這需要高功耗和足夠的內(nèi)存。當(dāng)內(nèi)存的存取速度滯后于處理器的計(jì)算速度時(shí)，內(nèi)存...

本申請(qǐng)涉及dram修復(fù)，尤其涉及一種dram的修復(fù)方法、上位機(jī)、存儲(chǔ)介質(zhì)及計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品。、目前，dram測(cè)試程序通常存儲(chǔ)在設(shè)備主板上的非易失性存儲(chǔ)器(如flash、eeprom或硬盤)中。系統(tǒng)啟動(dòng)后，將測(cè)試程序加載到dram中運(yùn)行，以完成對(duì)dram的測(cè)試與修復(fù)。、然而，這種方法存在兩個(gè)主...

本發(fā)明涉及存儲(chǔ)器，尤其涉及一種靜態(tài)隨機(jī)存儲(chǔ)器。、oled微顯示技術(shù)憑借其自發(fā)光特性、亞毫米級(jí)像素密度、超寬色域、微秒級(jí)響應(yīng)速度及低功耗等優(yōu)勢(shì)，已成為vr/ar等功耗敏感型可穿戴設(shè)備的首選顯示方案。然而，在向k/k分辨率、hz以上刷新率演進(jìn)的過(guò)程中，時(shí)序控制器需集成更大容量的幀緩存器，以支持...

本公開實(shí)施例涉及半導(dǎo)體，尤其涉及一種存儲(chǔ)器裝置及其控制方法，以及一種存儲(chǔ)器系統(tǒng)及其控制方法。、存儲(chǔ)器裝置是現(xiàn)代信息技術(shù)中用于保存信息的存儲(chǔ)設(shè)備。作為一種典型的非易失性半導(dǎo)體存儲(chǔ)器，nand(not-and，與非型)型存儲(chǔ)器由于具有較高的存儲(chǔ)密度、可控的生產(chǎn)成本、合適的編擦速度及保持特性，逐...

本申請(qǐng)實(shí)施例涉及半導(dǎo)體領(lǐng)域，特別涉及一種存儲(chǔ)器。、存儲(chǔ)器通過(guò)字線和位線控制數(shù)據(jù)的讀取、寫入以及刷新。在進(jìn)行數(shù)據(jù)讀取的過(guò)程中，感測(cè)放大器需要基于目標(biāo)位線和互補(bǔ)位線的電壓差對(duì)讀取出來(lái)的數(shù)據(jù)進(jìn)行放大，進(jìn)而有效獲取存儲(chǔ)于存儲(chǔ)單元中的數(shù)據(jù)；其中，目標(biāo)位線指的是與被激活字線對(duì)應(yīng)的存儲(chǔ)單元連接的位線。、...

本公開的多種實(shí)施例總體涉及一種數(shù)據(jù)存儲(chǔ)裝置和數(shù)據(jù)存儲(chǔ)裝置的操作方法，更具體地，涉及一種具有改進(jìn)的寫入操作性能的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)裝置和數(shù)據(jù)存儲(chǔ)裝置的操作方法。、數(shù)據(jù)存儲(chǔ)裝置可以包括存儲(chǔ)數(shù)據(jù)的存儲(chǔ)器裝置和控制存儲(chǔ)器裝置的控制器。存儲(chǔ)器裝置可以是易失性存儲(chǔ)器裝置或非易失性存儲(chǔ)器裝置。易失性存儲(chǔ)器裝置在供...

本申請(qǐng)涉及自動(dòng)化檢測(cè)，尤其涉及硬盤檢測(cè)設(shè)備。、硬盤在出廠之前需要進(jìn)行檢測(cè)，可通過(guò)檢測(cè)篩選出不合格產(chǎn)品，以保證出廠產(chǎn)品的性能滿足要求。、目前，可以通過(guò)人工將裝有硬盤的托盤運(yùn)送到測(cè)試柜處，然后通過(guò)人工將硬盤從托盤中取出、并放入測(cè)試柜內(nèi)進(jìn)行檢測(cè)。在相關(guān)技術(shù)中，硬盤檢測(cè)人力耗費(fèi)較大，效率較低。技術(shù)...

本申請(qǐng)涉及數(shù)據(jù)存儲(chǔ)，尤其涉及一種存儲(chǔ)設(shè)備的性能測(cè)試方法及裝置、電子設(shè)備和存儲(chǔ)介質(zhì)。、在相關(guān)技術(shù)中，硬盤（hard?disk?drive，hdd）或固態(tài)硬盤（solid?state?drive，ssd）作為駐留的存儲(chǔ)介質(zhì)被廣泛應(yīng)用于各類系統(tǒng)中。對(duì)于數(shù)據(jù)秘籍類的應(yīng)用場(chǎng)景，比如大語(yǔ)言模型訓(xùn)練、大...

本技術(shù)涉及內(nèi)存芯片模組，更具體的說(shuō)，涉及一種基于壓縮存儲(chǔ)硬盤模組的測(cè)試結(jié)構(gòu)。、微型壓縮存儲(chǔ)硬盤模組(m?i?n?i-compress?i?on?storage?d?i?sk?modu?l?e，簡(jiǎn)稱mcsdm)，標(biāo)準(zhǔn)壓縮存儲(chǔ)硬盤模組(compress?i?on?storage?d?i?sk?...

本申請(qǐng)涉及錄音設(shè)備，具體涉及一種藍(lán)牙麥克風(fēng)。、筆記本電腦簡(jiǎn)稱筆記本，又稱“便攜式電腦，手提電腦、掌上電腦或膝上型電腦”，特點(diǎn)是機(jī)身小巧，比臺(tái)式機(jī)攜帶方便，是一種小型、便于攜帶的個(gè)人電腦。、現(xiàn)有技術(shù)公開了一種筆記本電腦內(nèi)置式麥克風(fēng)裝置，包括麥克風(fēng)本體和橡膠體，所述橡膠體具有容置所述麥克風(fēng)本體...

本技術(shù)涉及內(nèi)存芯片模組，更具體的說(shuō)，涉及一種基于微型壓縮固態(tài)存儲(chǔ)硬盤模組的組裝結(jié)構(gòu)。、常見的模組三種連接組裝方式有嵌入式焊接、連接器插槽和板對(duì)板針連接。、.嵌入式焊接：是指通過(guò)焊接的方式組裝到設(shè)備上，比如emmc和ufs，優(yōu)點(diǎn)是小巧輕便，缺點(diǎn)是不方便升級(jí)更換；、.連接器插槽是通過(guò)彈片連接器...

本技術(shù)涉及芯片測(cè)試設(shè)備，更具體的說(shuō)，涉及一種內(nèi)存模組測(cè)試裝置。、內(nèi)存模組測(cè)試裝置是一種專門用于測(cè)試和驗(yàn)證內(nèi)存模塊(如ddr、sdram等)性能和可靠性的設(shè)備。它主要用于制造、研發(fā)和質(zhì)量控制等環(huán)節(jié)，確保內(nèi)存模塊在各種條件下的穩(wěn)定性和性能。傳統(tǒng)的內(nèi)存模組測(cè)試裝置在測(cè)試過(guò)程中，無(wú)法確定內(nèi)存模組是...

在本文描述的本公開的實(shí)施例涉及半導(dǎo)體裝置，并且更具體地，涉及一種半導(dǎo)體存儲(chǔ)器裝置。、半導(dǎo)體存儲(chǔ)器裝置可分為易失性存儲(chǔ)器裝置或非易失性存儲(chǔ)器裝置。易失性存儲(chǔ)裝置可在被供電時(shí)保留存儲(chǔ)在其中的數(shù)據(jù)，非易失性存儲(chǔ)裝置可甚至在電源被切斷期間也保留存儲(chǔ)在其中的數(shù)據(jù)。易失性存儲(chǔ)器裝置提供了快速的速度，并...

本技術(shù)涉及存儲(chǔ)，具體為一種計(jì)算機(jī)外部存儲(chǔ)卡。、計(jì)算機(jī)中的存儲(chǔ)器多種多樣，軟盤、硬盤、光盤、u盤、移動(dòng)硬盤、sd卡等都是存儲(chǔ)裝置，通過(guò)這些外部存儲(chǔ)器與計(jì)算機(jī)進(jìn)行連接，可以為計(jì)算機(jī)提供更多的儲(chǔ)存空間。、但是傳統(tǒng)的計(jì)算機(jī)外部存儲(chǔ)裝置與計(jì)算機(jī)進(jìn)行連接時(shí)，需要將存儲(chǔ)卡與機(jī)體內(nèi)的連接件進(jìn)行對(duì)接，同時(shí)還...

本發(fā)明涉及靜態(tài)存儲(chǔ)，尤其涉及一種存儲(chǔ)芯片的測(cè)試系統(tǒng)及測(cè)試方法。、在集成電路芯片制造的過(guò)程中，漏電流檢測(cè)是在晶圓階段進(jìn)行的，對(duì)于通過(guò)晶圓測(cè)試（cp，chip?probing）的晶片會(huì)被封裝成最終的芯片。芯片的封裝過(guò)程包括研磨、切割、打線和塑封等制程工藝，芯片在封裝過(guò)程中很可能受到制程工藝的影...

本技術(shù)涉及測(cè)試設(shè)備，尤其涉及一種兼容多接口的老化測(cè)試板。、bit(burn?in?test)測(cè)試，是固態(tài)硬盤(ssd)的燒機(jī)老化測(cè)試。固態(tài)硬盤(ssd)連接測(cè)試設(shè)備，進(jìn)行連續(xù)長(zhǎng)時(shí)間的寫入和讀取數(shù)據(jù)，測(cè)試固態(tài)硬盤的穩(wěn)定性和應(yīng)用兼容性。sata(serial?ata)，串行ata，是一種電腦總...