本技術(shù)涉及檢測(cè)，尤其涉及涂層厚度檢測(cè)方法、涂布裝置、檢測(cè)設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)。

背景技術(shù)：

1、極片膜卷會(huì)在經(jīng)過(guò)涂層涂布后，被切割為多個(gè)極片，以供形成電池時(shí)使用，在進(jìn)行涂層的涂布時(shí)，通常要求極片膜卷上的不同位置的涂層厚度具有一致性，從而使得由不同極片分別形成的電池一致性較強(qiáng)。

2、然而，現(xiàn)有的涂層厚度檢測(cè)方法中，由于極片膜卷在進(jìn)行移動(dòng)時(shí)，可能出現(xiàn)偏移現(xiàn)象，使得檢測(cè)位置相對(duì)于預(yù)期位置產(chǎn)生偏差，從而導(dǎo)致檢測(cè)得到的涂層厚度準(zhǔn)確性較低，也即，現(xiàn)有的涂層厚度檢測(cè)的準(zhǔn)確性較低。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、本技術(shù)主要解決的技術(shù)問(wèn)題是提供涂層厚度檢測(cè)方法、涂布裝置、檢測(cè)設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)，能夠提高涂層厚度檢測(cè)的準(zhǔn)確性。

2、第一方面，本技術(shù)提供了一種涂層厚度檢測(cè)方法，應(yīng)用于涂布裝置，涂布裝置具有間隔設(shè)置的第一檢測(cè)位置和第二檢測(cè)位置，涂布裝置用于控制極片膜卷進(jìn)行移動(dòng)，依次經(jīng)過(guò)第一檢測(cè)位置和第二檢測(cè)位置；涂層厚度檢測(cè)方法包括：獲取位于第一檢測(cè)位置的極片膜卷的目標(biāo)點(diǎn)位與極片膜卷的目標(biāo)長(zhǎng)邊之間的第一距離，并且，檢測(cè)位于第一檢測(cè)位置的目標(biāo)點(diǎn)位的第一厚度；控制位于第二檢測(cè)位置與目標(biāo)長(zhǎng)邊之間的第二距離為第一距離，并且，檢測(cè)位于第二檢測(cè)位置的目標(biāo)點(diǎn)位的第二厚度；基于第一厚度和第二厚度，確定目標(biāo)點(diǎn)位的涂層厚度；第一檢測(cè)位置位于極片膜卷的涂布前區(qū)域，第二檢測(cè)位置位于極片膜卷的涂布后區(qū)域。

3、本技術(shù)實(shí)施例的技術(shù)方案中，在目標(biāo)點(diǎn)位隨極片膜卷移動(dòng)至第一檢測(cè)位置時(shí)，獲取到目標(biāo)點(diǎn)位與目標(biāo)長(zhǎng)邊之間的第一距離，并對(duì)第一檢測(cè)位置的目標(biāo)點(diǎn)位進(jìn)行檢測(cè)得到第一厚度，之后，在目標(biāo)點(diǎn)位隨極片膜卷移動(dòng)而經(jīng)過(guò)第一檢測(cè)位置，到達(dá)第二檢測(cè)位置或在第二檢測(cè)位置的極片膜卷的寬度方向上時(shí)，將第二檢測(cè)位置與目標(biāo)長(zhǎng)邊之間的第二距離等于第一距離，使得第二檢測(cè)位置與目標(biāo)點(diǎn)位重合，對(duì)第二檢測(cè)位置的目標(biāo)點(diǎn)位進(jìn)行檢測(cè)得到第二厚度，以分別在兩個(gè)檢測(cè)位置分別針對(duì)極片膜卷的同一個(gè)點(diǎn)位進(jìn)行厚度檢測(cè)，得到該第一厚度和該第二厚度，基于第一厚度和第二厚度進(jìn)行相應(yīng)處理確定目標(biāo)點(diǎn)位的涂層厚度，實(shí)現(xiàn)涂層厚度檢測(cè)?；谏鲜龇绞剑軌蛟跇O片膜卷的目標(biāo)點(diǎn)位抵達(dá)第二檢測(cè)位置或在第二檢測(cè)位置的極片膜卷的寬度方向上時(shí)，通過(guò)使得第二檢測(cè)位置與目標(biāo)長(zhǎng)邊之間的距離，相等于目標(biāo)點(diǎn)位在第一檢測(cè)位置時(shí)的第一檢測(cè)位置與目標(biāo)長(zhǎng)邊之間的距離，使得第二檢測(cè)位置與目標(biāo)點(diǎn)位重合，降低因極片膜卷在移動(dòng)時(shí)因出現(xiàn)寬度方向上的偏移，而導(dǎo)致第二檢測(cè)位置的實(shí)際檢測(cè)點(diǎn)位與目標(biāo)點(diǎn)位發(fā)生偏差的可能性，進(jìn)而降低了因第二檢測(cè)位置的實(shí)際檢測(cè)點(diǎn)位與目標(biāo)點(diǎn)位發(fā)生偏差而使得涂層厚度檢測(cè)的結(jié)果失真的可能性，提高了涂層厚度檢測(cè)的準(zhǔn)確性。

4、在一些實(shí)施例中，獲取位于第一檢測(cè)位置的極片膜卷的目標(biāo)點(diǎn)位與極片膜卷的目標(biāo)長(zhǎng)邊之間的第一距離，并且，檢測(cè)位于第一檢測(cè)位置的目標(biāo)點(diǎn)位的第一厚度，包括：在第一時(shí)刻，獲取位于第一檢測(cè)位置的目標(biāo)點(diǎn)位與目標(biāo)長(zhǎng)邊之間的第一距離，并且，檢測(cè)位于第一檢測(cè)位置的目標(biāo)點(diǎn)位的第一厚度；控制位于第二檢測(cè)位置與目標(biāo)長(zhǎng)邊之間的第二距離為第一距離，并且，檢測(cè)位于第二檢測(cè)位置的目標(biāo)點(diǎn)位的第二厚度，包括：在第二時(shí)刻，控制位于第二檢測(cè)位置與目標(biāo)長(zhǎng)邊之間的第二距離為第一距離，并且，檢測(cè)位于第二檢測(cè)位置的目標(biāo)點(diǎn)位的第二厚度；第一時(shí)刻與第二時(shí)刻之間的時(shí)長(zhǎng)為預(yù)設(shè)時(shí)長(zhǎng)。

5、本技術(shù)實(shí)施例的技術(shù)方案中，第一時(shí)刻可以是指目標(biāo)點(diǎn)位隨極片膜卷移動(dòng)至第一檢測(cè)位置的時(shí)刻，此時(shí)可獲取到目標(biāo)點(diǎn)位與目標(biāo)長(zhǎng)邊之間的第一距離，并對(duì)第一檢測(cè)位置的目標(biāo)點(diǎn)位進(jìn)行檢測(cè)得到第一厚度，以及，通過(guò)使得第一時(shí)刻與第二時(shí)刻之間的時(shí)長(zhǎng)為預(yù)設(shè)時(shí)長(zhǎng)，預(yù)設(shè)時(shí)長(zhǎng)可以是極片膜卷從第一檢測(cè)位置移動(dòng)至第二檢測(cè)位置所需的時(shí)長(zhǎng)，第二時(shí)刻可以是指在目標(biāo)點(diǎn)位隨極片膜卷移動(dòng)而經(jīng)過(guò)第一檢測(cè)位置，到達(dá)第二檢測(cè)位置或在第二檢測(cè)位置的極片膜卷的寬度方向上的時(shí)刻，此時(shí)可將第二檢測(cè)位置與目標(biāo)長(zhǎng)邊之間的第二距離等于第一距離，使得第二檢測(cè)位置與目標(biāo)點(diǎn)位重合，對(duì)第二檢測(cè)位置的目標(biāo)點(diǎn)位進(jìn)行檢測(cè)得到第二厚度，以分別在第一時(shí)刻和第二時(shí)刻分別針對(duì)極片膜卷的同一個(gè)點(diǎn)位進(jìn)行厚度檢測(cè)，得到該第一厚度和該第二厚度，基于第一厚度和第二厚度進(jìn)行相應(yīng)處理確定目標(biāo)點(diǎn)位的涂層厚度，實(shí)現(xiàn)涂層厚度檢測(cè)。基于上述方式，能夠在極片膜卷的目標(biāo)點(diǎn)位抵達(dá)第二檢測(cè)位置或在第二檢測(cè)位置的極片膜卷的寬度方向上時(shí)，也即在第二時(shí)刻時(shí)，通過(guò)使得第二檢測(cè)位置與目標(biāo)長(zhǎng)邊之間的距離，相等于第一時(shí)刻時(shí)的第一檢測(cè)位置與目標(biāo)長(zhǎng)邊之間的距離，使得第二檢測(cè)位置與目標(biāo)點(diǎn)位重合，降低因極片膜卷在移動(dòng)時(shí)因出現(xiàn)寬度方向上的偏移，而導(dǎo)致第二檢測(cè)位置的實(shí)際檢測(cè)點(diǎn)位與目標(biāo)點(diǎn)位發(fā)生偏差的可能性，進(jìn)而降低了因第二檢測(cè)位置的實(shí)際檢測(cè)點(diǎn)位與目標(biāo)點(diǎn)位發(fā)生偏差而使得涂層厚度檢測(cè)的結(jié)果失真的可能性，提高了涂層厚度檢測(cè)的準(zhǔn)確性。

6、在一些實(shí)施例中，初始時(shí)刻為，極片膜卷開(kāi)始進(jìn)行移動(dòng)的時(shí)刻；涂層厚度檢測(cè)方法還包括：響應(yīng)于第一時(shí)刻為初始時(shí)刻，則在第二時(shí)刻之前，控制第二距離持續(xù)保持為第一距離。

7、本技術(shù)實(shí)施例的技術(shù)方案中，在第一時(shí)刻為初始時(shí)刻時(shí)，在第二時(shí)刻之前，極片膜卷的目標(biāo)點(diǎn)位尚未移動(dòng)至第二檢測(cè)位置或第二檢測(cè)位置的極片膜卷的寬度方向上，此時(shí)，可控制第二檢測(cè)位置與目標(biāo)長(zhǎng)邊之間的距離持續(xù)保持為，第一時(shí)刻下的第一檢測(cè)位置與目標(biāo)長(zhǎng)邊之間的距離?；谏鲜龇绞?，能夠在目標(biāo)點(diǎn)位移動(dòng)至第二檢測(cè)位置所在的極片膜卷的寬度方向上的界線時(shí)，能夠立刻與第二檢測(cè)位置進(jìn)行重合，以降低出現(xiàn)因極片膜卷的移動(dòng)速度過(guò)快而導(dǎo)致第二檢測(cè)位置無(wú)法與目標(biāo)點(diǎn)位重合以進(jìn)行第二厚度檢測(cè)的可能性，提高了涂層厚度檢測(cè)的可靠性。

8、在一些實(shí)施例中，在第一時(shí)刻，獲取位于第一檢測(cè)位置的目標(biāo)點(diǎn)位與目標(biāo)長(zhǎng)邊之間的第一距離，并且，檢測(cè)位于第一檢測(cè)位置的目標(biāo)點(diǎn)位的第一厚度，包括：響應(yīng)于第一時(shí)刻為初始時(shí)刻，則在第一時(shí)刻，控制第一檢測(cè)位置進(jìn)行復(fù)位，使得第一檢測(cè)位置移動(dòng)至復(fù)位位置，并且，檢測(cè)位于復(fù)位位置的目標(biāo)點(diǎn)位的第一厚度；其中，復(fù)位位置與目標(biāo)長(zhǎng)邊之間的距離為復(fù)位距離；涂層厚度檢測(cè)方法還包括：響應(yīng)于第一時(shí)刻為初始時(shí)刻，則在第二時(shí)刻之前，控制第二距離持續(xù)保持為復(fù)位距離。

9、本技術(shù)實(shí)施例的技術(shù)方案中，在第一時(shí)刻為初始時(shí)刻時(shí)，可控制第一檢測(cè)位置移動(dòng)至復(fù)位位置，并將此時(shí)的極片膜卷上位于復(fù)位位置處的點(diǎn)位作為目標(biāo)點(diǎn)位，檢測(cè)得到第一距離和第一厚度，而在第二時(shí)刻之前，極片膜卷的目標(biāo)點(diǎn)位尚未移動(dòng)至第二檢測(cè)位置或第二檢測(cè)位置的極片膜卷的寬度方向上，此時(shí)，可控制第二檢測(cè)位置與目標(biāo)長(zhǎng)邊之間的距離持續(xù)保持為，第一時(shí)刻下的第一檢測(cè)位置與目標(biāo)長(zhǎng)邊之間的復(fù)位距離。基于上述方式，能夠在目標(biāo)點(diǎn)位移動(dòng)至第二檢測(cè)位置所在的極片膜卷的寬度方向上的界線時(shí)，能夠立刻與第二檢測(cè)位置進(jìn)行重合，以降低出現(xiàn)因極片膜卷的移動(dòng)速度過(guò)快而導(dǎo)致第二檢測(cè)位置無(wú)法與目標(biāo)點(diǎn)位重合以進(jìn)行第二厚度檢測(cè)的可能性，提高了涂層厚度檢測(cè)的可靠性。

10、在一些實(shí)施例中，預(yù)設(shè)時(shí)長(zhǎng)為，第一檢測(cè)位置與第二檢測(cè)位置在沿目標(biāo)長(zhǎng)邊的延伸方向上的距離，除以極片膜卷相對(duì)于第一檢測(cè)位置或第二檢測(cè)位置的移動(dòng)速度，得到的商值。

11、本技術(shù)實(shí)施例的技術(shù)方案中，通過(guò)將第一檢測(cè)位置與第二檢測(cè)位置在沿目標(biāo)長(zhǎng)邊的延伸方向上的距離，除以極片膜卷相對(duì)于第一檢測(cè)位置或第二檢測(cè)位置的移動(dòng)速度，能夠確定極片膜卷的目標(biāo)點(diǎn)位從第一檢測(cè)位置移動(dòng)至第二檢測(cè)位置所需的時(shí)長(zhǎng)，通過(guò)將該時(shí)長(zhǎng)作為預(yù)設(shè)時(shí)長(zhǎng)，以確定第一時(shí)刻和第二時(shí)刻，能夠提高所得到的第一厚度與第二厚度正確對(duì)應(yīng)的可能性，提高了涂層厚度檢測(cè)方法的可靠性。

12、在一些實(shí)施例中，基于第一厚度和第二厚度，確定目標(biāo)點(diǎn)位的涂層厚度，包括：將第二厚度減去第一厚度，得到目標(biāo)點(diǎn)位的涂層厚度。

13、本技術(shù)實(shí)施例的技術(shù)方案中，通過(guò)將涂布后區(qū)域的目標(biāo)點(diǎn)位對(duì)應(yīng)檢測(cè)得到的第二厚度，減去涂布前區(qū)域的目標(biāo)點(diǎn)位對(duì)應(yīng)檢測(cè)得到的第一厚度，能夠得到目標(biāo)點(diǎn)位的涂層厚度，實(shí)現(xiàn)對(duì)極片膜卷的目標(biāo)點(diǎn)位的涂層厚度檢測(cè)。

14、在一些實(shí)施例中，極片膜卷的寬度方向與目標(biāo)長(zhǎng)邊的延伸方向垂直；第一檢測(cè)位置沿寬度方向和/或?qū)挾确较虻姆捶较蜻M(jìn)行運(yùn)動(dòng)。

15、本技術(shù)實(shí)施例的技術(shù)方案中，通過(guò)在極片膜卷進(jìn)行移動(dòng)的同時(shí)，使得第一檢測(cè)位置沿極片膜卷的寬度方向或極片膜卷的寬度方向的反方向保持運(yùn)動(dòng)，能夠使實(shí)現(xiàn)對(duì)極片膜卷在寬度方向上的多種第一距離下的點(diǎn)位的涂層厚度檢測(cè)，從而實(shí)現(xiàn)對(duì)極片膜卷上多種第一距離下的點(diǎn)位的檢測(cè)，提高了涂層厚度檢測(cè)的覆蓋范圍，提高了涂層厚度檢測(cè)的可靠性。

16、在一些實(shí)施例中，檢測(cè)位于第一檢測(cè)位置的目標(biāo)點(diǎn)位的第一厚度，包括：在第一檢測(cè)位置進(jìn)行激光測(cè)距得到第一測(cè)量距離，并且，將第一預(yù)設(shè)最大測(cè)量距離減去第一測(cè)量距離得到第一厚度；檢測(cè)位于第二檢測(cè)位置的目標(biāo)點(diǎn)位的第二厚度，包括：在第二檢測(cè)位置進(jìn)行激光測(cè)距得到第二測(cè)量距離，并且，將第二預(yù)設(shè)最大測(cè)量距離減去第二測(cè)量距離得到第二厚度。

17、本技術(shù)實(shí)施例的技術(shù)方案中，通過(guò)激光測(cè)距的方式得到第一測(cè)量距離和第二測(cè)量距離，并基于第一預(yù)設(shè)最大測(cè)量距離和第一測(cè)量距離確定極片膜卷的目標(biāo)點(diǎn)位的涂布前的厚度，以及基于第二預(yù)設(shè)最大測(cè)量距離和第二測(cè)量距離確定極片膜卷的目標(biāo)點(diǎn)位的涂布后的厚度，從而基于目標(biāo)點(diǎn)位涂布前的厚度和涂布后的厚度相減得到的厚度差值，確定目標(biāo)點(diǎn)位的涂層厚度，提高了涂層厚度檢測(cè)的準(zhǔn)確性。

18、第二方面，本技術(shù)提供了一種涂布裝置，具有間隔設(shè)置的第一檢測(cè)位置和第二檢測(cè)位置，第一檢測(cè)位置位于極片膜卷的涂布前區(qū)域，第二檢測(cè)位置位于極片膜卷的涂布后區(qū)域；涂布裝置包括：移動(dòng)單元，用于控制極片膜卷進(jìn)行移動(dòng)，依次經(jīng)過(guò)第一檢測(cè)位置和第二檢測(cè)位置；涂布單元，用于對(duì)極片膜卷進(jìn)行涂層的涂布；檢測(cè)單元，用于：獲取位于第一檢測(cè)位置的極片膜卷的目標(biāo)點(diǎn)位與極片膜卷的目標(biāo)長(zhǎng)邊之間的第一距離，并且，檢測(cè)位于第一檢測(cè)位置的目標(biāo)點(diǎn)位的第一厚度；控制位于第二檢測(cè)位置與目標(biāo)長(zhǎng)邊之間的第二距離為第一距離，并且，檢測(cè)位于第二檢測(cè)位置的目標(biāo)點(diǎn)位的第二厚度；基于第一厚度和第二厚度，確定目標(biāo)點(diǎn)位的涂層厚度。

19、第三方面，本技術(shù)提供了一種檢測(cè)設(shè)備，包括：存儲(chǔ)器和處理器；存儲(chǔ)器用于存儲(chǔ)程序指令，處理器用于執(zhí)行程序指令以實(shí)現(xiàn)上述方法。

20、第四方面，本技術(shù)提供了一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)存儲(chǔ)有程序指令，程序指令被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)上述方法。

21、可以理解的是，上述第二方面、第三方面和第四方面的有益效果可以參見(jiàn)上述第一方面中的相關(guān)描述，在此不再贅述。

22、上述說(shuō)明僅是本技術(shù)技術(shù)方案的概述，為了能夠更清楚了解本技術(shù)的技術(shù)手段，而可依照說(shuō)明書的內(nèi)容予以實(shí)施，并且為了讓本技術(shù)的上述和其它目的、特征和優(yōu)點(diǎn)能夠更明顯易懂，以下特舉本技術(shù)的具體實(shí)施方式。